ZYGO新品_VFA+干涉儀來啦，全新的計量方案了解一下

新品發布

__*快速的非球面自由曲面測量解決方案

ZYGO于2021年10月18日在美國羅徹斯特國際光學產品技術展 （SPIE Optifab）中，推出了其全新一代的Verifire Asphere+非球面激光干涉儀（簡稱VFA+），并展示了*新的計量技術方案。

*新的VFA+長這樣

VFA+建立在上一代Verfire Aphere非球面干涉儀成功的基礎之上，基于拼接技術，使用標準球面標準鏡及干涉儀主機，就可以快速、非接觸、高分辨率地測量出軸向對稱的非球面表面形貌。

VFA+具備非球面測試能力的同時，也是一個高精度曲率半徑測試平臺。其專業的設計，能非常有效地隔絕環境震動和氣流擾動的影響，使其光學器件曲率半徑的測試重復性達到百納米的級別。

VAF+能完全覆蓋一臺高精度和穩定的立式球面/平面激光干涉儀，基于其六個維度（X平移、Y平移、傾斜、俯仰、高低、旋轉）全自動調整的樣品臺，用戶可以自主完成全自動化的測試腳本程序。

除了擁有以上這些上一代Verfire Aphere已有的特點和優勢之外，新的VFA+更新了強大的Mx軟件（??點擊“Mx軟件”了解更多詳情），采用了更穩定可靠的測量倉設計，更重要的是：

VAF+可以高速批量檢測，包括自由曲面在內的非球面光學器件。

VFA+圖示??

ZYGO的VFA+集成了一個可選的工作臺，用于放置轉換波前的全息板 (CGH)（??點擊“全息板（CGH）”了解更多詳情）。基于CGH，VFA+可以測試包括自由曲面在內的各類非球面，包括樣品校準在內的測樣過程，單次在十幾秒內，就可以測得非球面3D相貌（百萬像素級數據密度），可以適用于各類自由曲面、圓柱及離軸圓錐曲面。

這一全新的技術方案，將打開大規模批量柔性光學制造技術的大門。從此，非球面光學加工質量控制將變得更容易執行，且更具有成本效益。

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