產品詳情
簡單介紹：
半導體硅片檢查用顯微鏡MX51
規格: 放大倍數：50×、100×、200×、500×、1000X;
物鏡種類：平場半復消色差物鏡，螢石材料；
觀察方法：明場、暗場、偏振光；
詳情介紹：
半導體硅片檢查用顯微鏡MX51
規格: 放大倍數：50×、100×、200×、500×、1000X;
物鏡種類：平場半復消色差物鏡，螢石材料；
觀察方法：明場、暗場、偏振光；
